1.射线测量物质厚度 技术简述:

X射线工作原理

β射线测厚度原理
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当使用透射或吸收方法来测量厚度时,放射源和探测器分别安装于所测材料的两侧。由放射源发出的射线经测量物后强度有所减弱,衰弱后的射线能到达探测器。射线的减弱量取决于测试物的组成、密度和厚度,可用下面的方程算出:
I = I0×e-μρd (式1.1)
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上述公式中:I0:无测试物质时射线的强度;μ:材料的吸收系数;ρ:材料的密度;d:材料的厚度
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材料吸收系数取决于所使用射线的类型和材料的组成。如果射线类型和材料组成预先确定,且密度是常数,则射线的强度减弱仅仅取决于材料的厚度。这种相互关系是放射法厚度测量的基础,不论使用的是β射线还是x射线,材料的厚度都可由射线强度I0和I的值确定。
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材料厚度或材料具体的物质吸收系数可在测量校正系统中确定,(对大多数系统)可由操作员修正,因此测量系统同样适用于其它材料。
2.灵敏度的比较
2.1 概况
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所谓的测量系统灵敏度是选择最佳放射测量方法的重要特征值。对于给定的材料,测量灵敏度越高,射线强度变化就越大(保护措施不足时,人体受到辐射几率也会大大增大)。
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这两个数值,即强度的相对变化和薄膜厚度的相对变化的比例,定义为灵敏度S:
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S = ∣Δl*d/Δd*l0∣ (式2.1)
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根据式1.1,灵敏度也可表述为:
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S =μρd e-μρd (式2.2)
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从方程2.2可看出,灵敏度S除了取决于厚度d以外,还取决于材料密度ρ和物质吸收系数,更精确得说取决于参照厚度测量范围d.
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物质吸收系数μ由射线类型(β或x-射线)和射线强度决定,也由材料组成决定。然而,材料密度ρ和厚度测量范围d是由应用而决定的。
3.X射线及β射线在PP及PET薄膜测厚度时灵敏度对比
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PP和PET薄膜拉伸线的薄膜测量需要4-70μ的测量范围,PP密度为1.0g/cm3,PET密度为1.33g/cm3,不同测量方法的灵敏度可由这些数据算出。
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对于给定的射线类型,物质衰减系数μ取决于射线的能量,当使用β射线时,能量的选择有很大的限度,因自然界存在的放射性原子核有限。然而x-射线的能量通过改变加速电压可在更大范围内调节,因此能调整到适应具体的应用情况。在图2.1中,灵敏度S是PP或PET薄膜厚度的函数,射线为Pm147和Kr85所发出的β射线和加速电压为5KV的x- 射线 。

基本质量g/m2
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灵敏度S是β射线Pm147和Kr85的基本质量的函数,同时也是带有超薄铍金属窗 片5KVx-射线源和3KVx-射线源的基本质量的函数
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从图中可看出,Pm147在质量为56g/m2时灵敏度最大。此时对应的薄膜厚度大约为:PP时为56μm,PET时为42μm。加速电压为3KV时,x-射线在质量为144g/m2时有最高的灵敏度。
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为了得到与由Pm147 产生的射线同样的灵敏度,x-射线必须有一个2KV的加速电压。然而由于x-射线源的能量太低,测量间隙之间的空气是不能穿透的介质。
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在正常的情况下,10mm厚的测量间隙将产生大约12.98g/m2的空气柱,此空气柱吸收Pm147大约20%的射线,即对测量本身来说,只有80%的射线是有用的。当使用电压为2KV的放射源时,只有不到15%的射线用来测量薄膜厚度。当考虑到放射源的保护金属片和测量头对射线的吸收时,上述的现象就更加显著:使用Pm147放射源时,56%的射线被测量间隙间的空气吸收,而使用加速电压为4KV的x-射线时,此吸收值高达95%。因此,并不使用电压小于3KV的x-射线放射源,使用电压为5KV,带有超薄的铍金属窗片是很合理的。在此电压下,大约70%的发射中子都被空气和铍金属窗片吸收,即30%用于厚度的测量。通过使用特殊的x-射线发射管能减少空气柱的厚度。