HAMAMATSU膜厚测量系统，采用激光干涉测量和光谱干涉测量的非接触式高精度厚度测量系统。可测量范围从10nm到2900μm，对离焦和角度无关，聚焦测量稳定性高，角度漂移稳定性高。可广泛用于薄膜、触摸平板、平板显示、半导体等加工过程厚度测量。
拓普光研 | TOP Photonics
拓普光研（TOP Photonics），成立于2009年，多年来致力于先进光子学相关技术的应用与推广工作。公司与Hamamatsu，Yokogawa，3sae，CorActive，LAB，EKSMA，EKSPLA，SingleQuantum，Fibercore，LVF，Furukawa，Santec，Innofocus，GoLight等三十多家光电领域的高科技公司合作，在国内做市场咨询、产品推广、本地化技术服务等工作。
公司专注于光纤传感、激光器集成、激光应用、微纳与集成光学、光纤通信、光学软件仿真等领域；涉及石油天然气传感、超高压输电监控、光纤激光集成、中远红外激光集成、超快激光集成与加工应用、3D激光打印、量子光学、集成光电子芯片、生物医学成像、高速光纤通信测试自动化、信息光学处理自动化等诸多细分领域。为广大用户提供软件仿真，核心光学器件，测试仪表与系统，光学加工系统等高端产品解决方案。 「链接」